嘉昂测量

OKIO-FreeScan X3

 一.产品技术质量

1.总体技术要求

*扫描方式：激光手持照相式

 *扫描技术：激光线网格扫描技术

帧扫描区域：250mm×280mm

景深：250mm

工作距离：300mm

*扫描速率：240000次/秒

扫描分辨率：0.100 （毫米）

*测量精度：最高0.03 mm

*体积精度：0.020 + 0.100（毫米/米）

体积精度（结合DigiMetric）：0.020 + 0.025（毫米/米）

测量范围（物件尺寸）：0.1 ～6米，可扩展

传输方式：USB3.0

工作温度：-10 - 40℃

工作湿度：10 - 90 %

2.三维光学扫描系统配置与功能要求

(1) 数据采集传感器：高速、高精密工业级相机2台 

* (2) 内置微惯性传感器，实时输出设备位姿；

* (3) 测量光源：6束交叉激光线，激光级别ClassII(人眼安全)，波长大于600纳米

(4) 计算机系统：支持windows 7，32位和64位操作系统，支持内存16G以上

(5) 拼接方式：系统整合“专业模式”全自动标志点拼接模块

(6) 全局误差控制方式：GREC Pro全局误差控制

* (7) 扫描方式：FLESA可变点距扫描

* (8) 使用方便：整个过程全部手持完成，无需三脚架等支撑装置

(9) 所测量的物体表面可不做任何形式（如喷白）的预先处理

(10) 普通环境下可以测量鎏金等高光亮物体以及黑色物体

(11) 防抖设计：采用先进的防抖动算法，防止扫描过程中人为的抖动对误差的影响

3.三维光学扫描系统软件功能要求

* 全中文软件界面

  * 自适应形面扫描模块

(1)  自动调节系统参数，自适应各种材质/颜色表面的不同扫描对象，无需手动调节；

(2)  FLESA可变点距扫描，在同一次扫描中，可对点距进行灵活设置和改变，同时满足高速扫描以及精细扫描的需求

* 自动拼接模块

(1)  智能标志点识别技术：系统自动跟踪识别标志点；

(2)  惯性—光学混合式传感器定位技术，实时将数据自动配准到同一坐标系；

(3)  GREC Pro全局误差控制模块，可对拼接后的误差进行全局控制；

* 全局框架扫描模块

(1)  全局框架扫描技术，对框架点累积误差进行全局控制；

(2)  兼容DigiMetric系统，搭载全局摄影测量技术可将扫描范围扩展至几十米；

  * 后处理模块

扫描数据后，可进行点云噪声处理及修剪

内置友好的网格处理控制参数人机交互界面，可对去除钉状物、精简、平滑、特征锐化等网格处理参数进行设置

自动生成三角面

自动对三角网格数据进行补洞、去除钉状物、精简、平滑、特征锐化等处理

数据输入输出

导出结果为ASC，STL，OBJ，OKO等格式数据输出接口广泛,测量结果可与CATIA、Geomagic Studio、Imageware等逆向工程软件自由交换数据

其它

*生产企业须通过双软企业认证，拥有国家级发明专利，并通过高新技术企业认定CE、FCC认证。

供应商必须提供设备的软硬件安装调试。

二、天远三维数据处理系统备件清单